近年來,隨著科技的發(fā)展和材料尺寸的不斷縮小,掃描電鏡(SEM)已經成為一種非常有價值的表征方法。SEM作為一種通用的工具,方便用戶可以對各種各樣的材料進行多種不同類型的分析。為獲得更好的結果,用戶應該仔細設定SEM參數。其中一個設置是束斑直徑,即照射在樣品上的電子束直徑。在這篇博客中,闡述了如何在SEM中調整束斑直徑,以及如何在高分辨率成像和大束流之間實現平衡,以獲得*結果。
如何在SEM下調整束斑直徑
描述SEM中電子束性質的四個主要參數如圖1所示:
圖1:SEM中電子束的四個主要參數:加速電壓、會聚角、電子束流和束斑直徑
在現代SEM中,用戶可以控制電子束的大小。這主要是通過調節(jié)系統的會聚鏡和物鏡,選擇不同大小的孔徑光闌來實現的。
電子流經電磁透鏡(由極靴內部的線圈組成),操作者可以通過調節(jié)加載在透鏡上的電流來控制電子的路徑。此外,束斑直徑取決于加速度電壓(高加速電壓減小斑點尺寸),工作距離(距離越大,束斑直徑越大),以及物鏡光闌(較小的光闌產生較小的束斑直徑)。
然而,實際上電子束斑的大小是一個控制和預測起來非常復雜的參數,因為它依賴于許多(相互關聯的)因素。描述束斑直徑涉及到電子槍的高斯直徑、末級光闌的衍射效應、色差和電磁透鏡引起的球面像差。
如果再看下圖1,為了在樣品試樣表面上有一個較小的束斑直徑和足夠的電流,用戶只需增加電子束的會聚角。然而,這將增加掃描電鏡中光學元件的像差,從而拓寬光束。因此,要想準確地進行實驗,必須了解不同的參數是如何影響電子束的特性,并權衡它們之間的利弊。
高分辨率成像與大束流
影響分辨率的主要因素是束斑直徑。為了獲得高分辨率的圖像,應該盡可能地保持更小的束斑直徑,以便能夠闡釋和描述樣品更小的特征。
另一方面,對于高信噪比和高對比度分辨率,電子束擁有足夠的束電流也是很重要的。由于減少了束斑大小的同時也減少了束電流,用戶需要判斷和選擇他們目標預期的設置。
一般來說,如果需要高倍率的圖像,那么束斑直徑的大小應該保持zui小。如果用戶只需要低放大率成像,那么就建議增加束斑直徑尺寸,這樣圖像就會產生更多的電子信號,看起來更清晰。
圖2,您可以觀察到在低放大率下獲得的圖像,但是較大的束斑直徑看起來更明亮和平滑。然而,隨著放大倍率的增加,當需要高分辨率成像時,用戶應該切換到較小的束斑直徑,以得到好的圖像。
此外,更大的束斑直徑——導致更大的電子束電流——增加了樣品的損害,這種現象應該被考慮進去,尤其是在對電子束敏感的樣品進行成像的時候。
圖2:錫球的SEM圖像a)大光斑b)小光斑。在左邊顯示的是低放大倍率圖像,顯示在右邊的是他們各自在高倍率放大下的圖像。在低倍率鏡下,采用大束流(a)。在高倍率放大圖像的情況下,使用較小的束斑直徑使用戶獲得更好的空間分辨率。
掃描電鏡是一種神奇的工具,有數不清的應用。然而,重要的一點是,操作者必須清楚地知道自己的需求——以及束斑直徑、電子束流和加速電壓是如何影響成像質量的。因此,為實驗選擇*參數是至關重要的。
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