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什么是 3D 打??？ 

3D 打?。ㄓ址Q增材制造）是一種以數(shù)字模型文件為基礎(chǔ)，運(yùn)用粉末狀金屬或塑料等可粘合材料，通過(guò)逐層打印的方式來(lái)構(gòu)造物體的技術(shù)。

做個(gè)簡(jiǎn)單的比方，小時(shí)候用積木蓋房子，心里先構(gòu)建好房子終的模樣，然后把積木一層一層壘起來(lái)，就成了房子的模樣。

剛開始 3D 打印主要用于制造模型，之后逐漸在汽車、航空航天、甚至牙科和醫(yī)療產(chǎn)業(yè)得到廣泛應(yīng)用。

例如 2014 年，周氏農(nóng)民從 3 樓墜落，左腦蓋被撞碎。醫(yī)生采用 3D 打印技術(shù)，設(shè)計(jì)了鈦金屬網(wǎng)重建缺損顱眶骨，制作出缺損的左“腦蓋”，幫其恢復(fù)形象。

哪些因素決定了 3D 打印工件的質(zhì)量？

在工業(yè)生產(chǎn)中，人-機(jī)-料-法-環(huán)，是全面質(zhì)量管理中 5 個(gè)影響產(chǎn)品質(zhì)量的主要因素。

人 —— 指制造產(chǎn)品的人員；
機(jī) —— 制造產(chǎn)品所用的設(shè)備；
料 —— 指制造產(chǎn)品所使用的原材料；
法 —— 指制造產(chǎn)品所使用的方法；
環(huán) —— 指產(chǎn)品制造過(guò)程中所處的環(huán)境。

其中，用于購(gòu)買原材料的費(fèi)用占有相當(dāng)大的比重。同時(shí)，原材料的質(zhì)量也是關(guān)系到工件質(zhì)量?jī)?yōu)劣zui關(guān)鍵的因素之一。因此，準(zhǔn)確地檢測(cè)和評(píng)定原材料的品質(zhì)，是保證工件質(zhì)量、降低工件造價(jià)的重要環(huán)節(jié)。

當(dāng)前應(yīng)用zui普遍的金屬 3D 打印技術(shù)是選擇性激光熔化（SLM），該技術(shù)所使用的原材料為金屬粉末。粉末的粒度、形狀、成分差異過(guò)大以及未知的特性會(huì)導(dǎo)致分層不均勻、缺陷增加、表面光潔度差，還可能會(huì)導(dǎo)致災(zāi)難性失效。

因此，有必要對(duì)金屬粉末做全面的評(píng)價(jià)。

飛納電鏡下的金屬粉末

現(xiàn)有金屬粉末的評(píng)估方法存在哪些優(yōu)缺點(diǎn)？

現(xiàn)有關(guān)于金屬粉末微觀形態(tài)評(píng)估的方法有兩種：激光粒度儀法和掃描電鏡觀察法。

激光粒度儀分析：通過(guò)顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來(lái)分析顆粒大小，并得到樣品的粒度分布。

激光粒度儀法具有如下優(yōu)點(diǎn)：

· 檢測(cè)效率高，一個(gè)樣品的檢測(cè)時(shí)間只需要數(shù)分鐘（不含樣品制備時(shí)間）。
?
· 粒徑范圍廣，可以檢測(cè)幾十納米到幾百微米的尺度。

但同時(shí)也存在以下問(wèn)題：

· 檢測(cè)準(zhǔn)確度有限：兩個(gè)小顆粒粘附到一起時(shí)，會(huì)被識(shí)別成一個(gè)大顆粒；另外，因不同材料的折射率不同，無(wú)法同時(shí)精確分析幾種材料的顆粒粒徑。

· 無(wú)法給出形狀信息：無(wú)法區(qū)分出長(zhǎng)條形顆粒和球狀顆粒，激光粒度儀在測(cè)量粒徑時(shí)，統(tǒng)一把顆粒看成了球形。

· 在表征顆粒粒度分布時(shí)激光粒度儀采用的是顆粒體積函數(shù)而不是顆粒數(shù)量函數(shù)。這使得直方圖中的大顆粒具有較高的權(quán)重，而小顆粒很容易被忽略掉。

上圖表顯示了對(duì)相同粉末采用兩種不同技術(shù)分析的結(jié)果對(duì)比。從高亮顯示的區(qū)域可以看出，較小的顆粒數(shù)量非常顯著（見數(shù)量分布），而這些顆粒的的體積貢獻(xiàn)相當(dāng)?shù)停ㄒ婓w積分布）。

掃描電鏡觀察：通過(guò)掃描電鏡拍照，獲得顆粒的形狀特征。

優(yōu)點(diǎn)：

· 眼見為實(shí)，直觀準(zhǔn)確：通過(guò)電子成像的方式，直接觀察到顆粒。進(jìn)而可以對(duì)顆粒的圓度、長(zhǎng)徑比等形貌特征進(jìn)行評(píng)估。

· 獲取成分信息：配合能譜儀，可以分析顆粒所含元素的種類。

缺點(diǎn)：

數(shù)據(jù)獲取速度較慢，需要連續(xù)拍照并人工測(cè)量尺寸并統(tǒng)計(jì)。

飛納（Phenom）提出了什么樣的解決方案？

Phenom ParticleX 以電鏡法為基礎(chǔ)，并搭配能譜儀，可以直觀的獲取顆粒的形狀和成分信息。同時(shí)，通過(guò)自動(dòng)移動(dòng)拍照——自動(dòng)顆粒識(shí)別——自動(dòng)顆粒分析，可以在短時(shí)間分析大量顆粒，彌補(bǔ)了電鏡法檢測(cè)效率低的問(wèn)題。

應(yīng)用案例

1. 按粒徑進(jìn)行統(tǒng)計(jì)：

對(duì)供應(yīng)商 A (a, b) 和供應(yīng)商 B (c,d) Ti-6Al-4V 粉末使用 掃描電鏡獲得的二次電子圖像及對(duì)應(yīng)的顆粒粒度分布。

ParticleX 可以測(cè)量每個(gè)顆粒的大直徑、小直徑、周長(zhǎng)和形狀等。

Phenom ParticleX 可自動(dòng)分析粉末，無(wú)需人員值守且可連續(xù)運(yùn)行。在自動(dòng)特征分析（AFA）模式下，用戶可以在幾分鐘內(nèi)對(duì)龐大的顆粒或夾雜物數(shù)據(jù)集進(jìn)行分類，進(jìn)而幫助優(yōu)化過(guò)程控制。

每個(gè)顆粒都分別分析并存儲(chǔ)相應(yīng)的數(shù)據(jù)。利用顆粒查看器，用戶可以輕松地對(duì)單個(gè)顆粒重新查看進(jìn)行更深入的分析或成像。

2. 按形狀進(jìn)行分類：

按照以下形態(tài)規(guī)則識(shí)別顆粒類型：

· 球形顆粒： – Aspect < 1.1 AND Roundness ≥ 0.9 – 0.6 ≤ Dave ≤ 5.5 AND Aspect < 1.4*

· 衛(wèi)星球顆粒： – Aspect < 1.4 AND Roundness > 0.6 AND (Area/Hull Area ≥ 0.95 AND Void Count < 1

· 變形顆粒/團(tuán)聚顆粒： – 所有其他顆粒

使用這些規(guī)則，可以分離出每種形態(tài)類型顆粒的粒徑體積分布（參見下圖）。

Ti-6Al-4V 粉末中球形顆粒、衛(wèi)星球顆粒和變形顆粒的體積分布

3. 按成分進(jìn)行分類：

對(duì) Ti-6Al-4V 粉末按照化學(xué)組成進(jìn)行顆粒分析

4. 高分辨率成像

Phenom ParticleX 作為自動(dòng)化增材質(zhì)量分析儀，同時(shí)也可以作為成像系統(tǒng)滿足多種應(yīng)用需求。Phenom ParticleX 圖像分辨率為 10 nm，可以對(duì)斷口表面、單個(gè)顆粒和表面缺陷（如氣孔、夾雜物和微裂紋）進(jìn)行高分辨率成像。

總結(jié)
 

Phenom ParticleX 在 3D 打印粉末綜合評(píng)估方面，可以自動(dòng)獲取金屬粉末的顆粒粒度分布、形貌和雜質(zhì)等信息，具體包括：

· 顆粒粒度分布 – 全面的顆粒粒度范圍
· 顆粒形貌分析 – 多種測(cè)量方法可供選擇
· 雜質(zhì)顆粒檢測(cè) – 可檢測(cè)出數(shù)千顆粒中夾雜的微量雜質(zhì)顆粒
· 高分辨率成像 – 10 nm 分辨率

激光衍射法不提供形態(tài)參數(shù)，而基于 SEM 的圖像分析，Phenom ParticleX 在自動(dòng)化采集顆粒形態(tài)信息方面具有優(yōu)勢(shì)，有助于對(duì)多次打印回收利用的粉末進(jìn)行分析和追蹤。